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CBTZ半自動(dòng)探針臺(tái) CBTZ自動(dòng)對(duì)位探針臺(tái)能對(duì)晶片實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)位測(cè)試， 操作簡(jiǎn)單，快捷，測(cè)試精度高，具有MAP顯示功能。 與測(cè)試儀連接后，能自動(dòng)完成對(duì)各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能測(cè)試

型號(hào)：CBTZ

更新日期：2023-06-20

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CGO-高低溫真空探針臺(tái) 溫度范圍77K-675K(液氮)； 可應(yīng)用于真空及常規(guī)環(huán)境； 超高溫度分辨率； 特殊客制低溫系統(tǒng)； 具有*穩(wěn)定性

型號(hào)：CGO-2/CGO-4/CGO-6

更新日期：2023-06-20

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高低溫探針臺(tái)是可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試 采用密閉腔結(jié)構(gòu)，屏蔽外部電信干擾同時(shí)保持氮?dú)庹龎涵h(huán)境下樣品在低溫時(shí)無(wú)結(jié)霜

型號(hào)：CT-6

更新日期：2023-06-20

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高溫探針臺(tái)可用于8英寸以內(nèi)樣品測(cè)試 ； 可滿足500度高溫測(cè)試 ； 溫度穩(wěn)定性高 ；兼容IV/CV/RF測(cè)試

型號(hào)：CS-4-HT/CS-6-HT/CH-8-HT/C

更新日期：2023-06-20

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IGBT高壓大電流測(cè)試探針臺(tái)$nCINDBEST CW-4 | 4“ 高壓大電流探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)$n可用于8英寸以內(nèi)樣品測(cè)試 ；$n可升級(jí)做射頻，大電流方面的測(cè)試和激光修復(fù)應(yīng)用

型號(hào)：CW-4

更新日期：2023-06-20

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CH-12 綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試； 操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn) ； 可滿足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等

型號(hào)：CH12

更新日期：2023-06-20

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12“ 綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)： 最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試； 操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn) ； 可滿足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等

型號(hào)：CH-8

更新日期：2023-06-20

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精密I-V測(cè)試測(cè)量探針臺(tái)系統(tǒng)特點(diǎn) / 應(yīng)用 ◆ 滿足I-V/C-V，PIV測(cè)試，光電測(cè)試等.，◆ 最大可用于8英寸以內(nèi)樣品測(cè)試，同軸絲杠傳動(dòng)結(jié)構(gòu)，線性移動(dòng)，兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動(dòng)，可升級(jí)做射頻，大電流方面的測(cè)試和激光修復(fù)應(yīng)用 CL系列探針臺(tái)可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動(dòng) ；可升級(jí)做射頻，大電流方面的測(cè)試和激光修復(fù)應(yīng)用

型號(hào)：CL-6

更新日期：2023-06-20

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